Сканирующая Ион-Проводящая Микроскопия

Сканирующая ион проводящая микроскопия (СИПМ) — это одна из разновидностей СЗМ, использующая в качестве зонда нанопипетку, которая регистрирует ионный ток, проходящий через ее отверстие r~ (5-10)нм. СИПМ была разработана для бесконтактного исследования мягких образцов сложной формы, в том числе и живых клеток

0